思儀6433P光波元件分析儀產品簡介

6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用于高速電光器件（電光強度調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。

典型應用

單端光器件測試

針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試，可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

利用儀器提供的多種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示，可快速實現相頻特性等指標的測量。

平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現平衡光發射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

光芯片在片測試

6433P光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現電光/光電芯片的頻響參數的測試。

自動化測試

6433P光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網口，只需完成設備的互聯，發送命令即可實現一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統。

思儀6433P光波元件分析儀技術指標